ダブルパルス試験¶
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必要オプション:Power Palette
ダブルパルス試験について¶
ダブルパルス試験は、パワーデバイスの特性を評価する際に一般的に用いられている手法です。
ハーフブリッジ回路に誘導負荷と入力電源を接続した基本回路で測定を行い、誘導負荷と電源の値を変更することで任意の条件のテストを行うことができます。
通常、試験対象となるデバイスはローサイドに接続し、ハイサイドスイッチにも同じデバイスを接続します。
パルス素子の設定¶
パルス素子はTimeモードに設定をしております。
Timeモードでは、1解析周期(メイン周波数の逆数)の範囲で、パルスの変化時刻を時間で設定することが可能です。
本サンプル回路では以下のようにパルス変化時刻を設定しております。
スイッチング損失の確認¶
ダブルパルス試験においてスイッチング波形を確認する場合、安定した回路状態にて計測を行うため、2パルス目の波形にてスイッチング波形を確認します。
シミュレーションは次の設定で行います。
- シミュレーションモード:Transient
- 波形表示方法:Full
- End Time (Full): 10usec
- Detail Switch:Detail
解析結果は次のようになります。
上記の設定通りにスイッチがオンオフしていることが確認できます。
2パルス目(4usec付近)の波形を拡大すると、ターンオン、ターンオフ動作が確認できます。
また、詳細波形解析からスイッチング損失[J]を計算する場合はレンジカーソルを使って積算値を確認します。



