状態数に関するエラー対処方法
シミュレーション中にエラーが起きる、またはシミュレーションが収束せず、極端にシミュレーションに時間がかかる場合は次の項目が原因となっている場合があります。
STATE_NUM: 状態数エラー
極端なパラメーター値になっている
極端に小さなキャパシタやインダクタが存在する回路で起こるエラーです。
それらの素子の影響が小さいと考えられる場合は取り外し、そうでない場合は、キャパシタやインダクタの値を影響の出ない範囲で大きくしてください。
ダイオードにLが直結されている
シミュレーション速度が極端に遅くなる場合は、直結したLに対して並列に高抵抗を追加してください
Cの並列接続やLの直列接続や大量のCやLがある回路
C, Lの数はシミュレーション速度に影響します。
Cの並列回路、Lの直列回路は避けて、一つのC、Lにまとめることでシミュレーション速度の向上につながります。
Lに関して離れた場所にあっても、Lの直列回路となっていることがありますので、回路を広く見ることで、エラーの解決につながります。
下記はシミュレーション中にエラーとなる可能性のあるLの接続例とその解決方法となります。
エラーとなる可能性のある接続方法
解決策1 大きな抵抗を並列に接続する
解決策2 2つのLを合成してLを一つとする
トランスに対するLCの不正接続
トランスは理想素子であるため、C、Lの接続の仕方、例えばトランスの両端に接続すると場合によっては不正接続となってしまうことがあります。
回路特性に影響しないようなRをCには直列、Lには並列に追加してください。
NANDのたすきがけ回路を含む場合
NANDのたすきがけ回路は、出力が交互に入力にフィードバックされるため状態決定が困難となり、状態エラーが発生することがあります。
エラーになる場合は、右図の回路に置き換えると解決できる可能性があります。
論理的動作は、禁止入力を除いて同等です。
ANALYSIS: 出力値の発散エラー
出力値が発散してしまう場合に発生するエラーです。
原因や対処方法に関しては、上述の状態数エラーと同様ですので、そちらをご確認ください。