ダブルパルス試験
Example
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サンプル回路はこちら:Scideam/PowerPalette/
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DoublePulseTest.scicir
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素子データシート GaN Systems社のGS66508T
Info
必要オプション:Power Palette
ダブルパルス試験について
ダブルパルス試験は、パワーデバイスの特性を評価する際に一般的に用いられている手法です。
ハーフブリッジ回路に誘導負荷と入力電源を接続した基本回路で測定を行い、誘導負荷と電源の値を変更することで任意の条件のテストを行うことができます。
通常、試験対象となるデバイスはローサイドに接続し、ハイサイドスイッチにも同じデバイスを接続します。
スイッチング損失の確認
ダブルパルス試験においてスイッチング波形を確認する場合、安定した回路状態にて計測を行うため、2パルス目の波形にてスイッチング波形を確認します。
出力変数には試験対象デバイスであるローサイドスイッチQM2
の電流・電圧を設定してください。
また演算系列追加にて電力を出力変数に設定しておくと解析をスムーズに進めることができます。
シミュレーションは次の設定で行います。
- シミュレーションモード:Waveform
- シミュレーション時間: 6usec(2パルス目が確認できる時間)
- Detail Switch :ON
解析結果は次のようになります。
詳細波形解析から損失を計算する場合はレンジカーソルを使って
積算値と時間幅より下記式によって概算することが可能です。